Oscar Solís-Canto

Oscar Solís-Canto

  • Correo Electrónico: oscar.solis@cimav.edu.mx

Educación

  • Maestro en Ciencias, especialidad en ciencia e ingeniería de materiales, Centro de Investigación y de Estudios Avanzados (2007).
  • Ingeniero Mecánico, especialidad en manufactura, Instituto Tecnológico de Mérida (2000).

Desempeño y cargo actuales

  • Nivel: TECNICO TITULAR C
  • Area: Laboratorio Nacional de Nanotecnología

Experiencia

  • Conocimiento y manejo avanzados de la tecnología de Alto Vacío para aplicaciones industriales y de investigación académica.
  • Manejo de diversas técnicas de caracterización y análisis de materiales como: espectroscopía óptica (UV-Vis, Raman, Elipsometría, Espectrofluorometría), microscopía de fuerza atómica, espectroscopía de electrones para análisis químico.
  • Diseño de equipos para depósito de materiales (Evaporación Térmica, Sputtering DC, RF, CVD) en condiciones de alto vacío.
  • Operación y soporte técnico a equipos de instrumentación en sistemas de depósito y/o caracterización de materiales (balanzas de cuarzo, analizadores de gases residuales, controladores de flujo másico, vacuómetros, controladores/medidores de presión y temperatura).
  • Operación y soporte técnico de sistemas de ultra bajas temperaturas (Crióstatos).
  • Operación y soporte técnico de equipos Escalab-250 para análisis químico de superficies (XPS-ESCA).

Areas de interes

  • Microscopía por Sonda de Barrido (STM, AFM, EFM, etc.)
  • Micro y nanofabricación, micromanipulación -situ, modificación y preparación de estructuras por Haz de Iones Enfocado (FIB)
  • Espectroscopía de Electrones para Análisis Químico (ESCA-XPS)
  • Elipsometría Espectroscópica
  • Tecnología de Alto Vacío e Instrumentación para deposición y crecimiento de materiales nanoestructurados (i.e. RF & DC Sputtering)

Distinciones

  • Premio al mejor trabajo en el área de sensores en el XV Congreso Nacional de Instrumentación: Películas delgadas metálicas como sensores de medición, SOMI XV, MAT-3; A. I. Oliva, F. Canul-Vargas, O. Solís-Canto y P. Quintana

Publicaciones

  • P. Amézaga-Madrid, W. Antúnez-Flores, J. Gónzalez-Hernández, J. Sáenz-Hernández, K. Campos-Venegas, O. Solís-Canto, C. Ornelas-Gutiérrez, O. Vega-Becerra, R. Martínez-Sánchez, M. Miki-Yoshida, Microstructural properties of multi nano-layered YSZ thin films, Journal of Alloys and Compounds 495 (629-633) 2010.